Λεπτομέρειες:
Πληρωμής & Αποστολής Όροι:
|
Σύστημα Ακτίνων Χ: | Σωλήνας ακτίνας X | Μέγεθος δείγματος: | Διάμετρος κυψελού: 2 ′′12 ίντσες· Ίγκοντ: ≤ 200 mm (διάμετρος) × 500 mm (μήκος) |
---|---|---|---|
Γωνιακή περιοχή: | θ: -10° έως +50°, 2θ: -10° έως +110° | Ακρίβεια προσανατολισμού: | ±10″–±30″ (μοντέλα υψηλής ακρίβειας: ±3″) |
Κίνηση Πολλαπλών Αξόνων: | Τοποθέτηση άξονα X/Y/Z, περιστροφή 360° ±15°, έλεγχος κλίσης | Ταχύτητα σάρωσης: | Πλήρης προσανατολισμός σε 10 δευτερόλεπτα (πλήρως αυτόματο) |
Εφαρμογές: | Παραγωγή ημιαγωγών, επεξεργασία οπτικών υλικών | ||
Επισημαίνω: | Όργανο προσανατολισμού δίσκων για τον προσδιορισμό γωνίας κοπής,Όργανο προσανατολισμού δίσκων υψηλής ακρίβειας |
Εργαλείο προσανατολισμού κυψελών με βάση το XRD για τον προσδιορισμό γωνίας κοπής υψηλής ακρίβειας
Ένα όργανο προσανατολισμού πλάκας είναι μια συσκευή υψηλής ακρίβειας που βασίζεται στην τεχνολογία διαθλίωσης ακτίνων Χ (XRD),που προορίζονται για τις βιομηχανίες ημιαγωγών και οπτικών υλικών για τον προσδιορισμό του προσανατολισμού των κρυστάλλων και των γωνιών κοπήςΤα βασικά στοιχεία της περιλαμβάνουν:
- Δεν ξέρω.Κατηγορία παραμέτρου | Παράμετρος | Προδιαγραφές/Περιγραφή |
Σύστημα ακτίνων Χ. |
Τύπος ακτινογραφίας | Στόχος χαλκού (Cu), εστιακό σημείο 0,4 × 1 mm, ψύξη αέρα |
Η τάση/ή το ρεύμα των ακτίνων Χ | 30 kV, ρυθμιζόμενη σε 0·5 mA | |
Τύπος ανιχνευτή | Τύπος Γκάιγκερ-Μίλερ (χαμηλή ενέργεια) ή μετρητής σπινθηροποίησης (υψηλή ενέργεια) | |
Σταθερή του χρόνου | 0.1/0.4/3 δευτερόλεπτα ρυθμιζόμενο | |
Γονιομέτρο. |
Μέγεθος δείγματος | Διάμετρος κυψελού: 2 ′′12 ίντσες· Ίγκοντ: ≤ 200 mm (διάμετρος) × 500 mm (μήκος) |
Γωνιακή περιοχή | θ: -10° έως +50°, 2θ: -10° έως +110° | |
Ακριβότητα προσανατολισμού | ±10′′ ′′±30′′ (μοντέλα υψηλής ακρίβειας: ±3′′) | |
Γωνιακή ανάλυση | Ελάχιστη ένδειξη: 1′′ (ψηφιακό) ή 10′′ (μακρογραφία) | |
Ταχύτητα σάρωσης | Πλήρης προσανατολισμός σε 10 δευτερόλεπτα (πλήρως αυτόματο) | |
Αυτοματοποίηση και Έλεγχος |
Στάδιο δειγματοληψίας | Σχοινιά σε V (2 ′′ πλάκες), ευθυγράμμιση άκρου/OF, χωρητικότητα 1 ′′50 kg |
Πολυάξια κίνηση | Θέση του άξονα X/Y/Z, περιστροφή 360° ±15°, έλεγχος κλίσης | |
Διασύνδεση | ΠΛΚ/RS232/Ethernet, συμβατό με το MES | |
Φυσικές προδιαγραφές |
Μέγεθος | 1130 × 650 × 1200 mm (L × W × H) |
Βάρος | 150~300 χλμ. | |
Απαιτήσεις ισχύος | Μονοφασική 220V±10%, 50/60 Hz, ≤ 0,5 kW | |
Επίπεδο θορύβου | < 65 dB (λειτουργία) | |
Προχωρημένα χαρακτηριστικά |
Έλεγχος τάσης κλειστού κυκλώματος | Παρακολούθηση σε πραγματικό χρόνο, ρύθμιση τάσης 0,1·1,0 MPa |
Βελτιστοποίηση με βάση την ΤΝ | Ανίχνευση ελαττωμάτων, προγνωστικές ειδοποιήσεις συντήρησης | |
Συνδυασμός υλικών | Υποστηρίζει κύβους (Si), εξάγωνους (σαφείριους) και ασύμμετρους κρυστάλλους (YAG) |
Η συσκευή λειτουργεί με τη χρήση τεχνολογιών διάθλασης ακτίνων Χ και σάρωσης Ωμέγα:
1. Διαθλασμός ακτίνων Χ:
- Δεν ξέρω.
2Ωμέγα σάρωση:
- Δεν ξέρω.
3Αυτοματοποιημένος έλεγχος:
- Δεν ξέρω.Χαρακτηριστικό
|
Περιγραφή
|
Τεχνικές παραμέτρους/Σπουδές περιπτώσεων
|
Υψηλή ακρίβεια.
|
Ακριβότητα σάρωσης Ωμέγα ±0,001°, ανάλυση FWHM καμπύλης κλίσης <0,005°
|
Λάθος κοπής πλακιδίων από καρβίδιο του πυριτίου ≤±0,5°
|
Μέτρηση υψηλής ταχύτητας - Δεν ξέρω. |
Μία μόνο σάρωση αποκτά όλα τα κρυσταλλογραφικά δεδομένα, 200 φορές πιο γρήγορα από το χειροκίνητο
|
Δοκιμή παρτίδας πλακιδίων πυριτίου: 120 πλακιδίων/ώρα
|
Συνδυασμός υλικών - Δεν ξέρω. |
Υποστηρίζει κύβους (Si), εξάγωνους (σαφείριους) και ασύμμετρους κρυστάλλους (YAG)
|
Εφαρμόσιμα υλικά: SiC, GaN, κουαρτς, γρανάτη
|
Ενσωμάτωση
|
Αλγόριθμοι βαθιάς μάθησης για ανίχνευση ελαττωμάτων, βελτιστοποίηση διαδικασιών σε πραγματικό χρόνο
|
Η διαλογή ελαττωμάτων μειώνει το ποσοστό απορριμμάτων σε < 1%
|
Μονουλικός σχεδιασμός
|
Επεκτάσιμη πλατφόρμα X-Y για 3D χαρτογράφηση ή ενσωμάτωση EBSD
|
Ανίχνευση πυκνότητας εκτόξευσης σε κυψέλες πυριτίου ≤ 100 cm−2
|
1Παρασκευή ημιαγωγών:
2Επεξεργασία οπτικών υλικών:
3- Σύνθετα υψηλής θερμοκρασίας και κεραμικά:
4Έρευνα και έλεγχος ποιότητας:
1. Ε: Πώς να βαθμολογήσετε ένα όργανο προσανατολισμού πλακέτας;
Α: Η βαθμονόμηση περιλαμβάνει την ευθυγράμμιση της πηγής ακτίνων Χ και του ανιχνευτή με χρήση κρυστάλλων αναφοράς, η οποία συνήθως απαιτεί γωνιακή ακρίβεια <0,001° και αυτοματοποιημένες προσαρμογές λογισμικού για ακρίβεια.
2. Ε: Ποια είναι η τυπική ακρίβεια ενός οργάνου προσανατολισμού πλάκας;
Α: Τα μοντέλα υψηλής ποιότητας επιτυγχάνουν ακρίβεια ± 0,001 °, κρίσιμη για την κοπή των ημιαγωγών πλακών και την ανάλυση κρυστάλλων ελαττωμάτων σε βιομηχανίες όπως η φωτοβολταϊκή και η προηγμένη κεραμική.
Ετικέτες:Όργανο προσανατολισμού πλάκας,#Βασισμένο σε XRD, #Sapphire, #SiC, #High-Precision Cutting, # Angle Determination
- Δεν ξέρω.
Υπεύθυνος Επικοινωνίας: Mr. Wang
Τηλ.:: +8615801942596