Το ημιμονωτικό καρβίδιο του πυριτίου είναι ένα σημαντικό υλικό υποστρώματος για συσκευές ραδιοσυχνοτήτων υψηλής συχνότητας και ισχύος, επειδή συνδυάζει υψηλή ηλεκτρική ειδική αντίσταση με υψηλή θερμική αγωγιμότητα.
Σε αντίθεση με τα αγώγιμα υποστρώματα SiC τύπου n που χρησιμοποιούνται κυρίως για συσκευές κάθετης ισχύος, το ημιμονωτικό SiC έχει σχεδιαστεί για να καταστέλλει την παρασιτική ηλεκτρική αγωγιμότητα μέσω του υποστρώματος. Αυτό το καθιστά ιδιαίτερα κατάλληλο για δομές ραδιοσυχνοτήτων, μικροκυμάτων και συσκευών υψηλής συχνότητας όπου η απώλεια υποστρώματος μπορεί να επηρεάσει άμεσα το κέρδος, την απόδοση και την απόδοση συχνότητας.
Μεταξύ ημιμονωτικών υλικών SiC, έχουν χρησιμοποιηθεί ιστορικά δύο προσεγγίσεις:
Αν και και τα δύο μπορούν να παρέχουν πολύ υψηλή ειδική αντίσταση, ο μηχανισμός που χρησιμοποιείται για την επίτευξη ημιμονωτικής συμπεριφοράς είναι διαφορετικός.
Για τους μηχανικούς συσκευών RF και τους αγοραστές γκοφρετών, αυτή η διαφορά μπορεί να επηρεάσει:
Για το λόγο αυτό, η επιλογή του υποστρώματος δεν πρέπει να βασίζεται μόνο στην ειδική ειδική αντίσταση.
Μια συσκευή ραδιοσυχνοτήτων που λειτουργεί σε συχνότητες μικροκυμάτων ή κυμάτων χιλιοστού πρέπει να ελαχιστοποιεί την ανεπιθύμητη ροή ρεύματος μέσω του υποστρώματος.
Εάν το υπόστρωμα είναι ηλεκτρικά αγώγιμο, η παρασιτική χωρητικότητα και οι διαδρομές ρεύματος μπορούν να αυξήσουν τις απώλειες ραδιοσυχνοτήτων.
Το ημιμονωτικό SiC παρέχει δύο σημαντικά χαρακτηριστικά ταυτόχρονα:
Υψηλή ηλεκτρική αντίσταση
και
Υψηλή θερμική αγωγιμότητα
Αυτός ο συνδυασμός είναι ιδιαίτερα ελκυστικός για εφαρμογές ραδιοσυχνοτήτων υψηλής ισχύος.
Η έρευνα για το ημιμονωτικό SiC έχει προσδιορίσει από καιρό τα ηλεκτρονικά μικροκυμάτων και τα ηλεκτρονικά υψηλής συχνότητας ως βασικές εφαρμογές, επειδή το υλικό μπορεί να παρέχει τόσο την αντίσταση που απαιτείται για λειτουργία χαμηλών απωλειών όσο και επαρκή θερμική αγωγιμότητα για τη διάχυση της θερμότητας της συσκευής.
Οι τυπικές εφαρμογές περιλαμβάνουν:
Για αυτές τις εφαρμογές, η ποιότητα του υποστρώματος επηρεάζει όχι μόνο την επεξεργασία πλακιδίων αλλά και το ηλεκτρικό περιβάλλον κάτω από την ενεργή συσκευή.
![]()
HPSI σημαίνει:
Ημιμονωτικό καρβίδιο του πυριτίου υψηλής καθαρότητας
Σε αντίθεση με το σκόπιμα προσμιγμένο με βανάδιο SiC, το υλικό HPSI παράγεται γενικά χρησιμοποιώντας υψηλή καθαρότητα υλικού και εγγενή ελαττώματα σε βαθύ επίπεδο για την αντιστάθμιση των υπολειμματικών ρηχών ακαθαρσιών.
Τρέχουσα διαφήμιση4H-SiCΤα προϊόντα HPSI προσδιορίζουν συγκεκριμένα το υλικό ωςόχι ντοπαρισμένο με βανάδιο.
Ο βασικός στόχος είναι να διατηρηθεί η συγκέντρωση του ελεύθερου φορέα εξαιρετικά χαμηλή, έτσι ώστε η ειδική αντίσταση του υποστρώματος χύδην να παραμένει υψηλή.
Οι υπολειμματικές ακαθαρσίες που συνήθως εμπλέκονται περιλαμβάνουν:
Τα εγγενή ελαττώματα μπορούν να εισαγάγουν βαθιά ηλεκτρονικά επίπεδα που αντισταθμίζουν αυτά τα υπολειμματικά ρηχά πρόσμικτα.
Η έρευνα για το HPSI 4H-SiC εντόπισε ελαττώματα που σχετίζονται με κενές θέσεις, κενά και σύμπλοκα κενού άνθρακα-αντιθέσης άνθρακα μεταξύ των ελαττωμάτων που μπορούν να συμβάλουν στην ημιμονωτική συμπεριφορά.
Αυτός ο μηχανισμός αντιστάθμισης επιτρέπει υψηλή ειδική αντίσταση χωρίς να βασίζεται σε εσκεμμένο ντόπινγκ βαρέων μετάλλων.
Η δεύτερη προσέγγιση είναι η σκόπιμη εισαγωγή βαναδίου στο SiC.
Το βανάδιο παράγει βαθιά επίπεδα ενέργειας μέσα στο διάκενο SiC.
Αυτά τα βαθιά επίπεδα μπορούν να αντισταθμίσουν τους ηλεκτρικά ενεργούς ρηχούς δότες και αποδέκτες, μειώνοντας τον αριθμό των δωρεάν φορέων φόρτισης.
Η απλοποιημένη έννοια είναι:
Υπολειμματικές ακαθαρσίες δότη/δέκτη → αντισταθμίζονται από βαθιά επίπεδα βαναδίου → χαμηλή συγκέντρωση φορέα → υψηλή ειδική αντίσταση
Η αντιστάθμιση βαναδίου χρησιμοποιείται εδώ και πολλά χρόνια για την παραγωγή ημιμονωτικού SiC.
Η έρευνα έχει εντοπίσει επίπεδα βαθιάς δέκτη που σχετίζονται με το βανάδιο περίπου περίπου 1 eV κάτω από την περιοχή της ζώνης αγωγιμότητας, αν και η ακριβής ηλεκτρική συμπεριφορά εξαρτάται από τη συγκέντρωση βαναδίου και άλλα εγγενή ελαττώματα.
Είναι σημαντικό να διακρίνουμε:
Ντοπαρισμένο με βανάδιο
από
4H-SiC
γιατί αυτά περιγράφουν δύο διαφορετικά χαρακτηριστικά.
Το βανάδιο περιγράφει τη μέθοδο αποζημίωσης/ντόπινγκ.
Το 4H περιγράφει τον πολυτύπο κρυστάλλου SiC.
Ημιμονωτικό υλικό με πρόσμιξη βαναδίου υπήρχε ιστορικά σε αρκετούς πολυτύπους SiC. Μερικά τρέχοντα εμπορικά ημιμονωτικά υποστρώματα με πρόσμιξη βαναδίου, για παράδειγμα, προσφέρονται ως 6H-SiC αντί για 4H-SiC.
Επομένως, ένα RFQ θα πρέπει πάντα να προσδιορίζει και τα δύο:
Πολύτυπος: 4H-SiC
και
Μέθοδος ημιμόνωσης / απαίτηση ειδικής αντίστασης
αντί να ζητάμε απλώς «ημιμονωτικό SiC».
Η θεμελιώδης διαφορά είναι πώς δημιουργείται η ημιμονωτική ηλεκτρική συμπεριφορά.
| Παράμετρος | HPSI 4H-SiC | SiC Ντοπαρισμένο με Βανάδιο |
|---|---|---|
| Μηχανισμός αποζημίωσης | Εγγενή βαθιά επίπεδα / μηχανική ελαττωμάτων | Σκόπιμη αντιστάθμιση σε βάθος V |
| Βανάδιο | Κανονικά απουσιάζει | Εισήχθη σκόπιμα |
| Στρατηγική καθαρότητας | Πολύ υψηλή καθαρότητα | Ελεγχόμενη αποζημίωση προσμίξεων |
| Αντίσταση | Πολύ ψηλά | Πολύ ψηλά |
| Κέντρα σε βάθος | Σχετίζεται κυρίως με εγγενές ελάττωμα | σχετιζόμενα με το V + εγγενή ελαττώματα |
| Καταλληλότητα RF | Εξοχος | Εξαρτάται από την εφαρμογή |
| Σταθερότητα παγίδας | Απαιτεί προσόν | Απαιτεί προσόν |
| Ανησυχία για πίσω πύλη | Γενικά χαμηλότερα κίνητρα για ανάπτυξη HPSI | Μπορεί να είναι σημαντικό σε ορισμένες δομές συσκευών |
| Εμπορικοί πολυτύποι | Κοινώς 4H | Μπορεί να περιλαμβάνει 4H ή 6H ανάλογα με τον προμηθευτή/διαδικασία |
Η τεχνολογία HPSI έγινε ολοένα και πιο σημαντική, εν μέρει επειδή το βανάδιο εισάγει πρόσθετα κέντρα σε βάθος.
Αυτές οι καταστάσεις παγίδευσης μπορεί να αλληλεπιδρούν με τη λειτουργία της συσκευής, ιδιαίτερα σε συνθήκες υψηλού ηλεκτρικού πεδίου ή υψηλής θερμοκρασίας.
Η έρευνα έχει αναφέρει ότι τα ηλεκτρόνια που παγιδεύονται από το βανάδιο μπορούν να απελευθερωθούν θερμικά και μπορεί να συμβάλουν σε επιδράσεις όπως η μετατόπιση της τάσης κατωφλίου ή η οπίσθια πύλη στις δομές της συσκευής φαινομένου πεδίου. Αυτός είναι ένας λόγος που το υλικό HPSI που βασίζεται σε εγγενή ελαττώματα έγινε όλο και πιο ελκυστικό.
Ωστόσο, αυτό δεν σημαίνει ότι κάθε υπόστρωμα με πρόσμιξη βαναδίου είναι ακατάλληλο για χρήση ραδιοσυχνοτήτων.
Η σωστή σύγκριση θα πρέπει να λάβει υπόψη:
Για ημιμονωτικό SiC, η ειδική αντίσταση είναι μια κύρια παράμετρος αγοράς.
Σκοπός του είναι να περιορίσει το ανεπιθύμητο ρεύμα που διαρρέει το υπόστρωμα.
Οι τρέχουσες εμπορικές προδιαγραφές HPSI 4H-SiC μπορούν να φτάσουν τιμές τουλάχιστον του εύρους 106–108 Ω·cm ή υψηλότερες ανάλογα με τον προμηθευτή, την ποιότητα και τις συνθήκες μέτρησης. Μια τρέχουσα εμπορική οικογένεια προϊόντων HPSI καθορίζει ≥108 Ω·cm για επιλεγμένο υλικό παραγωγής.
Τα ημιμονωτικά προϊόντα με πρόσμιξη βαναδίου μπορούν επίσης να παρουσιάσουν εξαιρετικά υψηλή ειδική αντίσταση.
Για παράδειγμα, εμπορικά ημιμονωτικά υλικά SiC με πρόσμιξη βαναδίου έχουν αναφερθεί με ειδική ειδική αντίσταση άνω των 109 Ω·cm, ανάλογα με τον πολυτύπο και τις προδιαγραφές του προϊόντος.
Ωστόσο, συγκρίνοντας δύο γκοφρέτες μόνο από τη δήλωση:
Αντίσταση >10⁸ Ω·cm
δεν είναι επαρκής.
Ο αγοραστής θα πρέπει επίσης να ρωτήσει:
Για συσκευές RF,σταθερότητα αντίστασηςμπορεί να είναι τόσο σημαντική όσο η απόλυτη τιμή θερμοκρασίας δωματίου.
Μια γκοφρέτα ημιαγωγών μπορεί να έχει υψηλή μετρημένη ειδική αντίσταση και να εξακολουθεί να περιέχει ηλεκτρικά ενεργά ελαττώματα.
Το ημιμονωτικό SiC βασίζεται σε βαθιά ηλεκτρονικά επίπεδα για την καταστολή των ελεύθερων φορέων.
Ωστόσο, τα βαθιά επίπεδα μπορούν επίσης να λειτουργήσουν ως παγίδες.
Ανάλογα με την αρχιτεκτονική της συσκευής, οι παγίδες μπορούν να συλλάβουν ή να απελευθερώσουν φορείς κατά τη διάρκεια:
Οι πιθανές επιπτώσεις περιλαμβάνουν:
Αυτός είναι ο λόγος για τον οποίο η επιλογή HPSI έναντι πρόσμιξης βαναδίου δεν μπορεί να περιοριστεί σε μια απλή ερώτηση για το ποια γκοφρέτα έχει μεγαλύτερη αντίσταση.
Ένα υψηλής ποιότητας υπόστρωμα ραδιοσυχνοτήτων πρέπει να συνδυάζει:
υψηλή ειδική αντίσταση + ηλεκτρική σταθερότητα + ελεγχόμενα ελαττώματα + καλές θερμικές ιδιότητες
Η ποιότητα του υποστρώματος RF επηρεάζεται επίσης από κρυσταλλογραφικά ελαττώματα.
Οι σημαντικές κατηγορίες ελαττωμάτων περιλαμβάνουν:
Οι μικροσωλήνες είναι ελαττώματα κοίλου πυρήνα που σχετίζονται με μεγάλες εξαρθρώσεις βιδών με διάνυσμα Burgers.
Αν και η σύγχρονη ανάπτυξη κρυστάλλων SiC έχει μειώσει δραματικά την πυκνότητα των μικροσωλήνων, παραμένουν μια σημαντική ιστορική και αγοραστική παράμετρος.
Για υποστρώματα ποιότητας RF, οι αγοραστές θα πρέπει να προσδιορίσουν:
Εξαρθρήματα βιδών σπειρώματος και εξαρθρήματα ακμών σπειρώματος μπορεί να διαδοθούν σε επόμενα επιταξιακά στρώματα.
Η επίδρασή τους εξαρτάται από τον τελικό σχεδιασμό της συσκευής.
Αντί να προσδιορίσετε μόνο:
Χαμηλή πυκνότητα εξάρθρωσης
το RFQ θα πρέπει να προσδιορίζει τις απαιτούμενες κατηγορίες ελαττωμάτων και τα επίπεδα αποδοχής.
Οι ηλεκτρικές ιδιότητες συχνά λαμβάνουν τη μεγαλύτερη προσοχή για ημιμονωτικό SiC, αλλά η γεωμετρία του πλακιδίου είναι εξίσου σημαντική κατά την κατασκευή της συσκευής.
TTV σημαίνει:
Διακύμανση ολικού πάχους
Αντιπροσωπεύει τη διαφορά μεταξύ του μέγιστου και του ελάχιστου πάχους γκοφρέτας εντός της καθορισμένης περιοχής μέτρησης.
Το υψηλό TTV μπορεί να δημιουργήσει προβλήματα κατά τη διάρκεια:
Οι εμπορικές προδιαγραφές υποστρώματος HPSI δείχνουν ότι τιμές όπως π.χTTV ≤10 μmείναι τεχνικά εφικτά για επιλεγμένες ποιότητες και μεγέθη γκοφρέτας, αν και η απαιτούμενη τιμή πρέπει πάντα να συμφωνείται μεταξύ αγοραστή και προμηθευτή.
Η εργασία τυποποίησης πλακιδίων SiC της SEMI προσδιορίζει επίσης το πάχος, την ανοχή, την επιπεδότητα, τον προσανατολισμό και τα ελαττώματα ως θεμελιώδη φυσικά χαρακτηριστικά του υποστρώματος.
Το TTV περιγράφει διακύμανση πάχους, αλλά δεν περιγράφει το πλήρες σχήμα της γκοφρέτας.
Δύο επιπλέον παράμετροι είναι σημαντικές:
Τόξο
και
Στημόνι
Μια γκοφρέτα μπορεί να έχει αποδεκτό TTV ενώ εξακολουθεί να παρουσιάζει υπερβολική συνολική παραμόρφωση.
Αυτό γίνεται όλο και πιο σημαντικό καθώς η διάμετρος της γκοφρέτας αυξάνεται.
Το υπερβολικό στημόνι μπορεί να προκαλέσει:
Επομένως, μια σοβαρή προδιαγραφή γκοφρέτας ραδιοσυχνοτήτων θα πρέπει κανονικά να περιέχει:
TTV + Bow + Warp
παρά μόνο το TTV.
Η επιφάνεια Si ενός ημιμονωτικού υποστρώματος SiC προετοιμάζεται κανονικά για επακόλουθη επιταξιακή ανάπτυξη.
Επομένως, η επιφάνεια πρέπει να έχει πολύ χαμηλή τραχύτητα και ελάχιστη ζημιά στο γυάλισμα.
Τα εμπορικά ημιμονωτικά υποστρώματα SiC προσανατολισμένα σε ραδιοσυχνότητες μπορούν να επιτύχουν τραχύτητα επιφάνειας κάτω των νανομέτρων. Τα τρέχοντα παραδείγματα προσδιορίζουν τραχύτητα κάτω από περίπου 5 Å για επιλεγμένα προϊόντα.
Ωστόσο, το Ra από μόνο του δεν περιγράφει πλήρως μια έτοιμη επιφάνεια.
Ο αγοραστής θα πρέπει επίσης να ελέγξει:
Μια γκοφρέτα μπορεί να έχει πολύ χαμηλή μέτρηση Ra ενώ εξακολουθεί να περιέχει μεμονωμένα ελαττώματα που επηρεάζουν την επιταξιακή ανάπτυξη.
Για εφαρμογές επιταξίας RF, η μπροστινή επιφάνεια είναι συνήθως η επιφάνεια πυριτίου.
Μια τυπική διαμόρφωση υποστρώματος μπορεί να είναι:
Si-face: CMP, epi-ready
C-face: οπτικό βερνίκι ή καθορισμένο φινίρισμα στο πίσω μέρος
Η ακριβής προετοιμασία της επιφάνειας πρέπει πάντα να συμπεριλαμβάνεται στο RFQ.
Για παράδειγμα:
Εμπρός: Si-face CMP, epi-ready
Πίσω: οπτικά γυαλισμένο
Απλώς ζητώντας:
Γυαλισμένο διπλής όψης
ενδέχεται να μην παρέχει επαρκείς πληροφορίες σχετικά με την πραγματική ποιότητα CMP που απαιτείται για την επιταξία.
Μια άλλη σημαντική διαφορά μεταξύ ημιμονωτικών υποστρωμάτων RF και υποστρωμάτων ηλεκτρικών συσκευών είναι ο προσανατολισμός.
Τα αγώγιμα υποστρώματα ισχύος 4H-SiC συνήθως παρέχονται με σκόπιμο προσανατολισμό εκτός άξονα για ομοεπιταξιακή ανάπτυξη.
Τα ημιμονωτικά υποστρώματα ραδιοσυχνοτήτων, ειδικά εκείνα που προορίζονται ως ξένα υποστρώματα για επιτάξεις νιτριδίων, παρέχονται συχνά στον άξονα.
Τα τρέχοντα εμπορικά προϊόντα HPSI 4H-SiC RF χρησιμοποιούν προσανατολισμούς επί του άξονα για ορισμένες κατηγορίες υποστρωμάτων.
Επομένως, η RFQ θα πρέπει να προσδιορίζει σαφώς:
Το ημιμονωτικό SiC ήταν ιστορικά διαθέσιμο σε μικρότερες διαμέτρους από τα κύρια αγώγιμα υποστρώματα ισχύος SiC.
Οι κοινές διάμετροι υποστρώματος RF περιλαμβάνουν:
Η ανάπτυξη μεγάλης διαμέτρου συνεχίζεται, αλλά η διαθεσιμότητα εξαρτάται σε μεγάλο βαθμό από:
Οι αγοραστές δεν πρέπει να υποθέσουν ότι κάθε προδιαγραφή SiC 200 mm τύπου n είναι αυτόματα διαθέσιμη ως γκοφρέτα HPSI 200 mm.
Για παράδειγμα, οι τρέχουσες εμπορικές πληροφορίες προϊόντων δείχνουν προσφορές 4H HPSI σε 100 mm και 150 mm, ενώ η διαθεσιμότητα 200 mm μπορεί να σχετίζεται με άλλες οικογένειες προϊόντων SiC.
Για το λόγο αυτό, θα πρέπει να επιβεβαιωθεί η διαθεσιμότητα διαμέτρου πριν από την οριστικοποίηση μιας διαδικασίας συσκευής.
Ένα επαγγελματικό RFQ θα πρέπει να περιέχει κάτι περισσότερο από διάμετρο και ειδική αντίσταση.
| Παράμετρος | Προτεινόμενες πληροφορίες RFQ |
|---|---|
| Υλικό | SiC μονοκρυστάλλου |
| Πολύτυπος | 4H-SiC |
| Ηλεκτρικός τύπος | Ημιμονωτικό |
| Αποζημίωση | HPSI / προσδιορίστε εάν απαιτείται |
| Διάμετρος | 100 mm / 150 mm / προσαρμοσμένο |
| Προσανατολισμός | Επί άξονα ή καθορισμένο |
| Επιφανειακή πολικότητα | Si-face |
| Πάχος | Ονομαστική + ανοχή |
| Αντίσταση | Ελάχιστη απαίτηση |
| TTV | Ανώτατο όριο |
| Τόξο | Ανώτατο όριο |
| Στημόνι | Ανώτατο όριο |
| Επιφάνεια | Si-face CMP, epi-ready |
| Τραχύτητα | Μέγιστο Ra |
| Πυκνότητα μικροσωλήνων | Ανώτατο όριο |
| Πυκνότητα εξάρθρωσης | Απαιτούμενο επίπεδο |
| Ρωγμές | Κανένα δεν επιτρέπεται |
| Τσιπ άκρων | Ορίστε την αποδοχή |
| Επιφανειακές γρατσουνιές | Ορίστε την αποδοχή |
| Σωματίδια | Καθορίστε το όριο επιθεώρησης |
| Πίσω επιφάνεια | Οπτικό γυαλιστικό / καθορισμένο |
| Έκθεση επιθεώρησης | Απαιτείται εάν χρειάζεται |
| Ταυτότητα γκοφρέτας | Υποχρεούμαι |
| Συσκευασία | Συμβατό με το Cleanroom |
Πριν παραγγείλουν ημιμονωτικό SiC για εφαρμογές ραδιοσυχνοτήτων, οι αγοραστές θα πρέπει να ρωτήσουν:
Αυτές οι ερωτήσεις διευκολύνουν τη σύγκριση τιμών από διαφορετικούς προμηθευτές υποστρώματος.
Δεν υπάρχει ενιαία προδιαγραφή κατάλληλη για κάθε συσκευή RF.
Ωστόσο, για σύγχρονες εφαρμογές υποστρώματος RF 4H-SiC, το HPSI είναι ιδιαίτερα ελκυστικό επειδή μπορεί να παρέχει πολύ υψηλή ειδική αντίσταση χωρίς σκόπιμη ντόπινγκ βαναδίου.
Αυτό αφαιρεί μια πηγή σκόπιμα εισαγόμενης ακαθαρσίας σε βάθος και έχει βοηθήσει το HPSI να γίνει μια σημαντική πλατφόρμα υλικού για προηγμένες δομές RF.
Το SiC με πρόσμιξη βαναδίου μπορεί ακόμα να παρέχει εξαιρετική ειδική αντίσταση και παραμένει τεχνικά σχετικό, ειδικά για καθιερωμένες πλατφόρμες συσκευών και συγκεκριμένους συνδυασμούς υποστρώματος/πολυτύπου.
Επομένως, η σωστή αξιολόγηση πρέπει να περιλαμβάνει:
αντίσταση
συν
σταθερότητα σε βαθύ επίπεδο
συν
ποιότητα κρυστάλλου
συν
γεωμετρία
συν
προετοιμασία της επιφάνειας
αντί να επιλέξετε μια γκοφρέτα με βάση έναν μόνο αριθμό.
Το ημιμονωτικό SiC είναι κάτι περισσότερο από απλό "SiC υψηλής αντίστασης".
Για συσκευές ραδιοσυχνοτήτων και μικροκυμάτων, το υπόστρωμα πρέπει να παρέχει συνδυασμό:
Το HPSI 4H-SiC επιτυγχάνει ημιμονωτική συμπεριφορά κυρίως μέσω υψηλής καθαρότητας υλικού και εγγενούς αντιστάθμισης σε βαθύ επίπεδο και όχι σκόπιμου ντόπινγκ βαναδίου.
Το SiC με πρόσμειξη βαναδίου χρησιμοποιεί σκόπιμα εισαγόμενα βαθιά επίπεδα για να αντισταθμίσει τους υπολειπόμενους φορείς.
Και οι δύο προσεγγίσεις μπορούν να δημιουργήσουν υποστρώματα υψηλής ειδικής αντίστασης, αλλά η φυσική και η ηλεκτρική συμπεριφορά των ελαττωμάτων τους είναι διαφορετικές.
Για την προμήθεια υποστρώματος ραδιοσυχνοτήτων, η πιο χρήσιμη προδιαγραφή δεν είναι επομένως απλώς:
Ημιμονωτικό 4H-SiC, υψηλή ειδική αντίσταση
αλλά ένας πλήρης συνδυασμός:
Πολυτύπος + Μέθοδος αντιστάθμισης + Αντίσταση + Πυκνότητα ελαττώματος + TTV + Τόξο/Στερέωμα + Τραχύτητα επιφάνειας + Ποιότητα CMP + Κριτήρια επιθεώρησης.
Αυτό παρέχει τόσο στον προμηθευτή όσο και στον κατασκευαστή της συσκευής RF μια σαφή τεχνική βάση για την πιστοποίηση γκοφρέτας.
HPSI σημαίνει ημιμονωτικό υψηλής καθαρότητας. Στα σύγχρονα υποστρώματα 4H-SiC, μπορεί να επιτευχθεί υψηλή ειδική αντίσταση μέσω ελεγχόμενης καθαρότητας υλικού και εγγενούς αντιστάθμισης σε βαθύ επίπεδο χωρίς σκόπιμα ντόπινγκ του κρυστάλλου με βανάδιο.
Όχι. Και τα δύο υλικά μπορεί να είναι ημιμονωτικά, αλλά οι μηχανισμοί αντιστάθμισης είναι διαφορετικοί. Το HPSI βασίζεται γενικά σε εγγενή ελαττώματα σε βάθος και υψηλή καθαρότητα, ενώ το υλικό με πρόσμειξη βαναδίου εισάγει σκόπιμα βαθειά επίπεδα που σχετίζονται με το βανάδιο.
Η απαιτούμενη τιμή εξαρτάται από τη συσκευή RF και τις συνθήκες μέτρησης. Τα εμπορικά ημιμονωτικά προϊόντα SiC μπορούν να καθορίσουν ειδική αντίσταση από περίπου 106–108 Ω·cm ή σημαντικά υψηλότερη ανάλογα με τον τύπο του υλικού, την ποιότητα και τον προμηθευτή. Οι αγοραστές πρέπει να προσδιορίζουν τόσο την ελάχιστη ειδική αντίσταση όσο και τις συνθήκες μέτρησης.
Όχι αυτόματα. Η επιλογή πολυτύπου εξαρτάται από την αρχιτεκτονική της συσκευής, την επιταξιακή διαδικασία και την καθιερωμένη πλατφόρμα κατασκευής. Ωστόσο, το 4H-SiC έχει γίνει μια σημαντική εμπορική πλατφόρμα για ημιμονωτικά υποστρώματα RF υψηλής καθαρότητας.
Το ημιμονωτικό καρβίδιο του πυριτίου είναι ένα σημαντικό υλικό υποστρώματος για συσκευές ραδιοσυχνοτήτων υψηλής συχνότητας και ισχύος, επειδή συνδυάζει υψηλή ηλεκτρική ειδική αντίσταση με υψηλή θερμική αγωγιμότητα.
Σε αντίθεση με τα αγώγιμα υποστρώματα SiC τύπου n που χρησιμοποιούνται κυρίως για συσκευές κάθετης ισχύος, το ημιμονωτικό SiC έχει σχεδιαστεί για να καταστέλλει την παρασιτική ηλεκτρική αγωγιμότητα μέσω του υποστρώματος. Αυτό το καθιστά ιδιαίτερα κατάλληλο για δομές ραδιοσυχνοτήτων, μικροκυμάτων και συσκευών υψηλής συχνότητας όπου η απώλεια υποστρώματος μπορεί να επηρεάσει άμεσα το κέρδος, την απόδοση και την απόδοση συχνότητας.
Μεταξύ ημιμονωτικών υλικών SiC, έχουν χρησιμοποιηθεί ιστορικά δύο προσεγγίσεις:
Αν και και τα δύο μπορούν να παρέχουν πολύ υψηλή ειδική αντίσταση, ο μηχανισμός που χρησιμοποιείται για την επίτευξη ημιμονωτικής συμπεριφοράς είναι διαφορετικός.
Για τους μηχανικούς συσκευών RF και τους αγοραστές γκοφρετών, αυτή η διαφορά μπορεί να επηρεάσει:
Για το λόγο αυτό, η επιλογή του υποστρώματος δεν πρέπει να βασίζεται μόνο στην ειδική ειδική αντίσταση.
Μια συσκευή ραδιοσυχνοτήτων που λειτουργεί σε συχνότητες μικροκυμάτων ή κυμάτων χιλιοστού πρέπει να ελαχιστοποιεί την ανεπιθύμητη ροή ρεύματος μέσω του υποστρώματος.
Εάν το υπόστρωμα είναι ηλεκτρικά αγώγιμο, η παρασιτική χωρητικότητα και οι διαδρομές ρεύματος μπορούν να αυξήσουν τις απώλειες ραδιοσυχνοτήτων.
Το ημιμονωτικό SiC παρέχει δύο σημαντικά χαρακτηριστικά ταυτόχρονα:
Υψηλή ηλεκτρική αντίσταση
και
Υψηλή θερμική αγωγιμότητα
Αυτός ο συνδυασμός είναι ιδιαίτερα ελκυστικός για εφαρμογές ραδιοσυχνοτήτων υψηλής ισχύος.
Η έρευνα για το ημιμονωτικό SiC έχει προσδιορίσει από καιρό τα ηλεκτρονικά μικροκυμάτων και τα ηλεκτρονικά υψηλής συχνότητας ως βασικές εφαρμογές, επειδή το υλικό μπορεί να παρέχει τόσο την αντίσταση που απαιτείται για λειτουργία χαμηλών απωλειών όσο και επαρκή θερμική αγωγιμότητα για τη διάχυση της θερμότητας της συσκευής.
Οι τυπικές εφαρμογές περιλαμβάνουν:
Για αυτές τις εφαρμογές, η ποιότητα του υποστρώματος επηρεάζει όχι μόνο την επεξεργασία πλακιδίων αλλά και το ηλεκτρικό περιβάλλον κάτω από την ενεργή συσκευή.
![]()
HPSI σημαίνει:
Ημιμονωτικό καρβίδιο του πυριτίου υψηλής καθαρότητας
Σε αντίθεση με το σκόπιμα προσμιγμένο με βανάδιο SiC, το υλικό HPSI παράγεται γενικά χρησιμοποιώντας υψηλή καθαρότητα υλικού και εγγενή ελαττώματα σε βαθύ επίπεδο για την αντιστάθμιση των υπολειμματικών ρηχών ακαθαρσιών.
Τρέχουσα διαφήμιση4H-SiCΤα προϊόντα HPSI προσδιορίζουν συγκεκριμένα το υλικό ωςόχι ντοπαρισμένο με βανάδιο.
Ο βασικός στόχος είναι να διατηρηθεί η συγκέντρωση του ελεύθερου φορέα εξαιρετικά χαμηλή, έτσι ώστε η ειδική αντίσταση του υποστρώματος χύδην να παραμένει υψηλή.
Οι υπολειμματικές ακαθαρσίες που συνήθως εμπλέκονται περιλαμβάνουν:
Τα εγγενή ελαττώματα μπορούν να εισαγάγουν βαθιά ηλεκτρονικά επίπεδα που αντισταθμίζουν αυτά τα υπολειμματικά ρηχά πρόσμικτα.
Η έρευνα για το HPSI 4H-SiC εντόπισε ελαττώματα που σχετίζονται με κενές θέσεις, κενά και σύμπλοκα κενού άνθρακα-αντιθέσης άνθρακα μεταξύ των ελαττωμάτων που μπορούν να συμβάλουν στην ημιμονωτική συμπεριφορά.
Αυτός ο μηχανισμός αντιστάθμισης επιτρέπει υψηλή ειδική αντίσταση χωρίς να βασίζεται σε εσκεμμένο ντόπινγκ βαρέων μετάλλων.
Η δεύτερη προσέγγιση είναι η σκόπιμη εισαγωγή βαναδίου στο SiC.
Το βανάδιο παράγει βαθιά επίπεδα ενέργειας μέσα στο διάκενο SiC.
Αυτά τα βαθιά επίπεδα μπορούν να αντισταθμίσουν τους ηλεκτρικά ενεργούς ρηχούς δότες και αποδέκτες, μειώνοντας τον αριθμό των δωρεάν φορέων φόρτισης.
Η απλοποιημένη έννοια είναι:
Υπολειμματικές ακαθαρσίες δότη/δέκτη → αντισταθμίζονται από βαθιά επίπεδα βαναδίου → χαμηλή συγκέντρωση φορέα → υψηλή ειδική αντίσταση
Η αντιστάθμιση βαναδίου χρησιμοποιείται εδώ και πολλά χρόνια για την παραγωγή ημιμονωτικού SiC.
Η έρευνα έχει εντοπίσει επίπεδα βαθιάς δέκτη που σχετίζονται με το βανάδιο περίπου περίπου 1 eV κάτω από την περιοχή της ζώνης αγωγιμότητας, αν και η ακριβής ηλεκτρική συμπεριφορά εξαρτάται από τη συγκέντρωση βαναδίου και άλλα εγγενή ελαττώματα.
Είναι σημαντικό να διακρίνουμε:
Ντοπαρισμένο με βανάδιο
από
4H-SiC
γιατί αυτά περιγράφουν δύο διαφορετικά χαρακτηριστικά.
Το βανάδιο περιγράφει τη μέθοδο αποζημίωσης/ντόπινγκ.
Το 4H περιγράφει τον πολυτύπο κρυστάλλου SiC.
Ημιμονωτικό υλικό με πρόσμιξη βαναδίου υπήρχε ιστορικά σε αρκετούς πολυτύπους SiC. Μερικά τρέχοντα εμπορικά ημιμονωτικά υποστρώματα με πρόσμιξη βαναδίου, για παράδειγμα, προσφέρονται ως 6H-SiC αντί για 4H-SiC.
Επομένως, ένα RFQ θα πρέπει πάντα να προσδιορίζει και τα δύο:
Πολύτυπος: 4H-SiC
και
Μέθοδος ημιμόνωσης / απαίτηση ειδικής αντίστασης
αντί να ζητάμε απλώς «ημιμονωτικό SiC».
Η θεμελιώδης διαφορά είναι πώς δημιουργείται η ημιμονωτική ηλεκτρική συμπεριφορά.
| Παράμετρος | HPSI 4H-SiC | SiC Ντοπαρισμένο με Βανάδιο |
|---|---|---|
| Μηχανισμός αποζημίωσης | Εγγενή βαθιά επίπεδα / μηχανική ελαττωμάτων | Σκόπιμη αντιστάθμιση σε βάθος V |
| Βανάδιο | Κανονικά απουσιάζει | Εισήχθη σκόπιμα |
| Στρατηγική καθαρότητας | Πολύ υψηλή καθαρότητα | Ελεγχόμενη αποζημίωση προσμίξεων |
| Αντίσταση | Πολύ ψηλά | Πολύ ψηλά |
| Κέντρα σε βάθος | Σχετίζεται κυρίως με εγγενές ελάττωμα | σχετιζόμενα με το V + εγγενή ελαττώματα |
| Καταλληλότητα RF | Εξοχος | Εξαρτάται από την εφαρμογή |
| Σταθερότητα παγίδας | Απαιτεί προσόν | Απαιτεί προσόν |
| Ανησυχία για πίσω πύλη | Γενικά χαμηλότερα κίνητρα για ανάπτυξη HPSI | Μπορεί να είναι σημαντικό σε ορισμένες δομές συσκευών |
| Εμπορικοί πολυτύποι | Κοινώς 4H | Μπορεί να περιλαμβάνει 4H ή 6H ανάλογα με τον προμηθευτή/διαδικασία |
Η τεχνολογία HPSI έγινε ολοένα και πιο σημαντική, εν μέρει επειδή το βανάδιο εισάγει πρόσθετα κέντρα σε βάθος.
Αυτές οι καταστάσεις παγίδευσης μπορεί να αλληλεπιδρούν με τη λειτουργία της συσκευής, ιδιαίτερα σε συνθήκες υψηλού ηλεκτρικού πεδίου ή υψηλής θερμοκρασίας.
Η έρευνα έχει αναφέρει ότι τα ηλεκτρόνια που παγιδεύονται από το βανάδιο μπορούν να απελευθερωθούν θερμικά και μπορεί να συμβάλουν σε επιδράσεις όπως η μετατόπιση της τάσης κατωφλίου ή η οπίσθια πύλη στις δομές της συσκευής φαινομένου πεδίου. Αυτός είναι ένας λόγος που το υλικό HPSI που βασίζεται σε εγγενή ελαττώματα έγινε όλο και πιο ελκυστικό.
Ωστόσο, αυτό δεν σημαίνει ότι κάθε υπόστρωμα με πρόσμιξη βαναδίου είναι ακατάλληλο για χρήση ραδιοσυχνοτήτων.
Η σωστή σύγκριση θα πρέπει να λάβει υπόψη:
Για ημιμονωτικό SiC, η ειδική αντίσταση είναι μια κύρια παράμετρος αγοράς.
Σκοπός του είναι να περιορίσει το ανεπιθύμητο ρεύμα που διαρρέει το υπόστρωμα.
Οι τρέχουσες εμπορικές προδιαγραφές HPSI 4H-SiC μπορούν να φτάσουν τιμές τουλάχιστον του εύρους 106–108 Ω·cm ή υψηλότερες ανάλογα με τον προμηθευτή, την ποιότητα και τις συνθήκες μέτρησης. Μια τρέχουσα εμπορική οικογένεια προϊόντων HPSI καθορίζει ≥108 Ω·cm για επιλεγμένο υλικό παραγωγής.
Τα ημιμονωτικά προϊόντα με πρόσμιξη βαναδίου μπορούν επίσης να παρουσιάσουν εξαιρετικά υψηλή ειδική αντίσταση.
Για παράδειγμα, εμπορικά ημιμονωτικά υλικά SiC με πρόσμιξη βαναδίου έχουν αναφερθεί με ειδική ειδική αντίσταση άνω των 109 Ω·cm, ανάλογα με τον πολυτύπο και τις προδιαγραφές του προϊόντος.
Ωστόσο, συγκρίνοντας δύο γκοφρέτες μόνο από τη δήλωση:
Αντίσταση >10⁸ Ω·cm
δεν είναι επαρκής.
Ο αγοραστής θα πρέπει επίσης να ρωτήσει:
Για συσκευές RF,σταθερότητα αντίστασηςμπορεί να είναι τόσο σημαντική όσο η απόλυτη τιμή θερμοκρασίας δωματίου.
Μια γκοφρέτα ημιαγωγών μπορεί να έχει υψηλή μετρημένη ειδική αντίσταση και να εξακολουθεί να περιέχει ηλεκτρικά ενεργά ελαττώματα.
Το ημιμονωτικό SiC βασίζεται σε βαθιά ηλεκτρονικά επίπεδα για την καταστολή των ελεύθερων φορέων.
Ωστόσο, τα βαθιά επίπεδα μπορούν επίσης να λειτουργήσουν ως παγίδες.
Ανάλογα με την αρχιτεκτονική της συσκευής, οι παγίδες μπορούν να συλλάβουν ή να απελευθερώσουν φορείς κατά τη διάρκεια:
Οι πιθανές επιπτώσεις περιλαμβάνουν:
Αυτός είναι ο λόγος για τον οποίο η επιλογή HPSI έναντι πρόσμιξης βαναδίου δεν μπορεί να περιοριστεί σε μια απλή ερώτηση για το ποια γκοφρέτα έχει μεγαλύτερη αντίσταση.
Ένα υψηλής ποιότητας υπόστρωμα ραδιοσυχνοτήτων πρέπει να συνδυάζει:
υψηλή ειδική αντίσταση + ηλεκτρική σταθερότητα + ελεγχόμενα ελαττώματα + καλές θερμικές ιδιότητες
Η ποιότητα του υποστρώματος RF επηρεάζεται επίσης από κρυσταλλογραφικά ελαττώματα.
Οι σημαντικές κατηγορίες ελαττωμάτων περιλαμβάνουν:
Οι μικροσωλήνες είναι ελαττώματα κοίλου πυρήνα που σχετίζονται με μεγάλες εξαρθρώσεις βιδών με διάνυσμα Burgers.
Αν και η σύγχρονη ανάπτυξη κρυστάλλων SiC έχει μειώσει δραματικά την πυκνότητα των μικροσωλήνων, παραμένουν μια σημαντική ιστορική και αγοραστική παράμετρος.
Για υποστρώματα ποιότητας RF, οι αγοραστές θα πρέπει να προσδιορίσουν:
Εξαρθρήματα βιδών σπειρώματος και εξαρθρήματα ακμών σπειρώματος μπορεί να διαδοθούν σε επόμενα επιταξιακά στρώματα.
Η επίδρασή τους εξαρτάται από τον τελικό σχεδιασμό της συσκευής.
Αντί να προσδιορίσετε μόνο:
Χαμηλή πυκνότητα εξάρθρωσης
το RFQ θα πρέπει να προσδιορίζει τις απαιτούμενες κατηγορίες ελαττωμάτων και τα επίπεδα αποδοχής.
Οι ηλεκτρικές ιδιότητες συχνά λαμβάνουν τη μεγαλύτερη προσοχή για ημιμονωτικό SiC, αλλά η γεωμετρία του πλακιδίου είναι εξίσου σημαντική κατά την κατασκευή της συσκευής.
TTV σημαίνει:
Διακύμανση ολικού πάχους
Αντιπροσωπεύει τη διαφορά μεταξύ του μέγιστου και του ελάχιστου πάχους γκοφρέτας εντός της καθορισμένης περιοχής μέτρησης.
Το υψηλό TTV μπορεί να δημιουργήσει προβλήματα κατά τη διάρκεια:
Οι εμπορικές προδιαγραφές υποστρώματος HPSI δείχνουν ότι τιμές όπως π.χTTV ≤10 μmείναι τεχνικά εφικτά για επιλεγμένες ποιότητες και μεγέθη γκοφρέτας, αν και η απαιτούμενη τιμή πρέπει πάντα να συμφωνείται μεταξύ αγοραστή και προμηθευτή.
Η εργασία τυποποίησης πλακιδίων SiC της SEMI προσδιορίζει επίσης το πάχος, την ανοχή, την επιπεδότητα, τον προσανατολισμό και τα ελαττώματα ως θεμελιώδη φυσικά χαρακτηριστικά του υποστρώματος.
Το TTV περιγράφει διακύμανση πάχους, αλλά δεν περιγράφει το πλήρες σχήμα της γκοφρέτας.
Δύο επιπλέον παράμετροι είναι σημαντικές:
Τόξο
και
Στημόνι
Μια γκοφρέτα μπορεί να έχει αποδεκτό TTV ενώ εξακολουθεί να παρουσιάζει υπερβολική συνολική παραμόρφωση.
Αυτό γίνεται όλο και πιο σημαντικό καθώς η διάμετρος της γκοφρέτας αυξάνεται.
Το υπερβολικό στημόνι μπορεί να προκαλέσει:
Επομένως, μια σοβαρή προδιαγραφή γκοφρέτας ραδιοσυχνοτήτων θα πρέπει κανονικά να περιέχει:
TTV + Bow + Warp
παρά μόνο το TTV.
Η επιφάνεια Si ενός ημιμονωτικού υποστρώματος SiC προετοιμάζεται κανονικά για επακόλουθη επιταξιακή ανάπτυξη.
Επομένως, η επιφάνεια πρέπει να έχει πολύ χαμηλή τραχύτητα και ελάχιστη ζημιά στο γυάλισμα.
Τα εμπορικά ημιμονωτικά υποστρώματα SiC προσανατολισμένα σε ραδιοσυχνότητες μπορούν να επιτύχουν τραχύτητα επιφάνειας κάτω των νανομέτρων. Τα τρέχοντα παραδείγματα προσδιορίζουν τραχύτητα κάτω από περίπου 5 Å για επιλεγμένα προϊόντα.
Ωστόσο, το Ra από μόνο του δεν περιγράφει πλήρως μια έτοιμη επιφάνεια.
Ο αγοραστής θα πρέπει επίσης να ελέγξει:
Μια γκοφρέτα μπορεί να έχει πολύ χαμηλή μέτρηση Ra ενώ εξακολουθεί να περιέχει μεμονωμένα ελαττώματα που επηρεάζουν την επιταξιακή ανάπτυξη.
Για εφαρμογές επιταξίας RF, η μπροστινή επιφάνεια είναι συνήθως η επιφάνεια πυριτίου.
Μια τυπική διαμόρφωση υποστρώματος μπορεί να είναι:
Si-face: CMP, epi-ready
C-face: οπτικό βερνίκι ή καθορισμένο φινίρισμα στο πίσω μέρος
Η ακριβής προετοιμασία της επιφάνειας πρέπει πάντα να συμπεριλαμβάνεται στο RFQ.
Για παράδειγμα:
Εμπρός: Si-face CMP, epi-ready
Πίσω: οπτικά γυαλισμένο
Απλώς ζητώντας:
Γυαλισμένο διπλής όψης
ενδέχεται να μην παρέχει επαρκείς πληροφορίες σχετικά με την πραγματική ποιότητα CMP που απαιτείται για την επιταξία.
Μια άλλη σημαντική διαφορά μεταξύ ημιμονωτικών υποστρωμάτων RF και υποστρωμάτων ηλεκτρικών συσκευών είναι ο προσανατολισμός.
Τα αγώγιμα υποστρώματα ισχύος 4H-SiC συνήθως παρέχονται με σκόπιμο προσανατολισμό εκτός άξονα για ομοεπιταξιακή ανάπτυξη.
Τα ημιμονωτικά υποστρώματα ραδιοσυχνοτήτων, ειδικά εκείνα που προορίζονται ως ξένα υποστρώματα για επιτάξεις νιτριδίων, παρέχονται συχνά στον άξονα.
Τα τρέχοντα εμπορικά προϊόντα HPSI 4H-SiC RF χρησιμοποιούν προσανατολισμούς επί του άξονα για ορισμένες κατηγορίες υποστρωμάτων.
Επομένως, η RFQ θα πρέπει να προσδιορίζει σαφώς:
Το ημιμονωτικό SiC ήταν ιστορικά διαθέσιμο σε μικρότερες διαμέτρους από τα κύρια αγώγιμα υποστρώματα ισχύος SiC.
Οι κοινές διάμετροι υποστρώματος RF περιλαμβάνουν:
Η ανάπτυξη μεγάλης διαμέτρου συνεχίζεται, αλλά η διαθεσιμότητα εξαρτάται σε μεγάλο βαθμό από:
Οι αγοραστές δεν πρέπει να υποθέσουν ότι κάθε προδιαγραφή SiC 200 mm τύπου n είναι αυτόματα διαθέσιμη ως γκοφρέτα HPSI 200 mm.
Για παράδειγμα, οι τρέχουσες εμπορικές πληροφορίες προϊόντων δείχνουν προσφορές 4H HPSI σε 100 mm και 150 mm, ενώ η διαθεσιμότητα 200 mm μπορεί να σχετίζεται με άλλες οικογένειες προϊόντων SiC.
Για το λόγο αυτό, θα πρέπει να επιβεβαιωθεί η διαθεσιμότητα διαμέτρου πριν από την οριστικοποίηση μιας διαδικασίας συσκευής.
Ένα επαγγελματικό RFQ θα πρέπει να περιέχει κάτι περισσότερο από διάμετρο και ειδική αντίσταση.
| Παράμετρος | Προτεινόμενες πληροφορίες RFQ |
|---|---|
| Υλικό | SiC μονοκρυστάλλου |
| Πολύτυπος | 4H-SiC |
| Ηλεκτρικός τύπος | Ημιμονωτικό |
| Αποζημίωση | HPSI / προσδιορίστε εάν απαιτείται |
| Διάμετρος | 100 mm / 150 mm / προσαρμοσμένο |
| Προσανατολισμός | Επί άξονα ή καθορισμένο |
| Επιφανειακή πολικότητα | Si-face |
| Πάχος | Ονομαστική + ανοχή |
| Αντίσταση | Ελάχιστη απαίτηση |
| TTV | Ανώτατο όριο |
| Τόξο | Ανώτατο όριο |
| Στημόνι | Ανώτατο όριο |
| Επιφάνεια | Si-face CMP, epi-ready |
| Τραχύτητα | Μέγιστο Ra |
| Πυκνότητα μικροσωλήνων | Ανώτατο όριο |
| Πυκνότητα εξάρθρωσης | Απαιτούμενο επίπεδο |
| Ρωγμές | Κανένα δεν επιτρέπεται |
| Τσιπ άκρων | Ορίστε την αποδοχή |
| Επιφανειακές γρατσουνιές | Ορίστε την αποδοχή |
| Σωματίδια | Καθορίστε το όριο επιθεώρησης |
| Πίσω επιφάνεια | Οπτικό γυαλιστικό / καθορισμένο |
| Έκθεση επιθεώρησης | Απαιτείται εάν χρειάζεται |
| Ταυτότητα γκοφρέτας | Υποχρεούμαι |
| Συσκευασία | Συμβατό με το Cleanroom |
Πριν παραγγείλουν ημιμονωτικό SiC για εφαρμογές ραδιοσυχνοτήτων, οι αγοραστές θα πρέπει να ρωτήσουν:
Αυτές οι ερωτήσεις διευκολύνουν τη σύγκριση τιμών από διαφορετικούς προμηθευτές υποστρώματος.
Δεν υπάρχει ενιαία προδιαγραφή κατάλληλη για κάθε συσκευή RF.
Ωστόσο, για σύγχρονες εφαρμογές υποστρώματος RF 4H-SiC, το HPSI είναι ιδιαίτερα ελκυστικό επειδή μπορεί να παρέχει πολύ υψηλή ειδική αντίσταση χωρίς σκόπιμη ντόπινγκ βαναδίου.
Αυτό αφαιρεί μια πηγή σκόπιμα εισαγόμενης ακαθαρσίας σε βάθος και έχει βοηθήσει το HPSI να γίνει μια σημαντική πλατφόρμα υλικού για προηγμένες δομές RF.
Το SiC με πρόσμιξη βαναδίου μπορεί ακόμα να παρέχει εξαιρετική ειδική αντίσταση και παραμένει τεχνικά σχετικό, ειδικά για καθιερωμένες πλατφόρμες συσκευών και συγκεκριμένους συνδυασμούς υποστρώματος/πολυτύπου.
Επομένως, η σωστή αξιολόγηση πρέπει να περιλαμβάνει:
αντίσταση
συν
σταθερότητα σε βαθύ επίπεδο
συν
ποιότητα κρυστάλλου
συν
γεωμετρία
συν
προετοιμασία της επιφάνειας
αντί να επιλέξετε μια γκοφρέτα με βάση έναν μόνο αριθμό.
Το ημιμονωτικό SiC είναι κάτι περισσότερο από απλό "SiC υψηλής αντίστασης".
Για συσκευές ραδιοσυχνοτήτων και μικροκυμάτων, το υπόστρωμα πρέπει να παρέχει συνδυασμό:
Το HPSI 4H-SiC επιτυγχάνει ημιμονωτική συμπεριφορά κυρίως μέσω υψηλής καθαρότητας υλικού και εγγενούς αντιστάθμισης σε βαθύ επίπεδο και όχι σκόπιμου ντόπινγκ βαναδίου.
Το SiC με πρόσμειξη βαναδίου χρησιμοποιεί σκόπιμα εισαγόμενα βαθιά επίπεδα για να αντισταθμίσει τους υπολειπόμενους φορείς.
Και οι δύο προσεγγίσεις μπορούν να δημιουργήσουν υποστρώματα υψηλής ειδικής αντίστασης, αλλά η φυσική και η ηλεκτρική συμπεριφορά των ελαττωμάτων τους είναι διαφορετικές.
Για την προμήθεια υποστρώματος ραδιοσυχνοτήτων, η πιο χρήσιμη προδιαγραφή δεν είναι επομένως απλώς:
Ημιμονωτικό 4H-SiC, υψηλή ειδική αντίσταση
αλλά ένας πλήρης συνδυασμός:
Πολυτύπος + Μέθοδος αντιστάθμισης + Αντίσταση + Πυκνότητα ελαττώματος + TTV + Τόξο/Στερέωμα + Τραχύτητα επιφάνειας + Ποιότητα CMP + Κριτήρια επιθεώρησης.
Αυτό παρέχει τόσο στον προμηθευτή όσο και στον κατασκευαστή της συσκευής RF μια σαφή τεχνική βάση για την πιστοποίηση γκοφρέτας.
HPSI σημαίνει ημιμονωτικό υψηλής καθαρότητας. Στα σύγχρονα υποστρώματα 4H-SiC, μπορεί να επιτευχθεί υψηλή ειδική αντίσταση μέσω ελεγχόμενης καθαρότητας υλικού και εγγενούς αντιστάθμισης σε βαθύ επίπεδο χωρίς σκόπιμα ντόπινγκ του κρυστάλλου με βανάδιο.
Όχι. Και τα δύο υλικά μπορεί να είναι ημιμονωτικά, αλλά οι μηχανισμοί αντιστάθμισης είναι διαφορετικοί. Το HPSI βασίζεται γενικά σε εγγενή ελαττώματα σε βάθος και υψηλή καθαρότητα, ενώ το υλικό με πρόσμειξη βαναδίου εισάγει σκόπιμα βαθειά επίπεδα που σχετίζονται με το βανάδιο.
Η απαιτούμενη τιμή εξαρτάται από τη συσκευή RF και τις συνθήκες μέτρησης. Τα εμπορικά ημιμονωτικά προϊόντα SiC μπορούν να καθορίσουν ειδική αντίσταση από περίπου 106–108 Ω·cm ή σημαντικά υψηλότερη ανάλογα με τον τύπο του υλικού, την ποιότητα και τον προμηθευτή. Οι αγοραστές πρέπει να προσδιορίζουν τόσο την ελάχιστη ειδική αντίσταση όσο και τις συνθήκες μέτρησης.
Όχι αυτόματα. Η επιλογή πολυτύπου εξαρτάται από την αρχιτεκτονική της συσκευής, την επιταξιακή διαδικασία και την καθιερωμένη πλατφόρμα κατασκευής. Ωστόσο, το 4H-SiC έχει γίνει μια σημαντική εμπορική πλατφόρμα για ημιμονωτικά υποστρώματα RF υψηλής καθαρότητας.